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產(chǎn)品中心

可程式恒溫恒濕實(shí)驗室

簡(jiǎn)要描述:可程式恒溫恒濕實(shí)驗室適用于航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各性能指標。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-05-07
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:779
詳情介紹

  可程式恒溫恒濕實(shí)驗室性能參數:

  ※溫度范圍 低溫:A:0℃ ;B:-20℃ ;C:-40℃ D:-60℃/ 高溫:80℃

  ※濕度范圍 20%-98%R.H(特殊要求:5%~98%RH;10%~98%RH:20%~98%RH)

  ※控制方式 微電腦PID+SSR+Timer

  ※規格尺寸 依客戶(hù)空間尺寸大小而設計

  可程式恒溫恒濕實(shí)驗室特點(diǎn):

  ※采用特殊之風(fēng)路結構,分布均勻性佳。

  ※采用環(huán)保冷媒,符合標準。

  ※LCD顯示屏幕,采對話(huà)框形式,操作簡(jiǎn)單,美觀(guān)大方。

  ※具備安全保護裝置及停電記憶。

  ※故障發(fā)生時(shí),顯示故障之原因,幫助故障排除。

  ※可連接電腦,記錄器(選配)。

  步入式恒溫恒濕試驗房制造參照標準:

  GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法低溫、高溫設備》的要求;

  ★電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2);

  ★GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法;

  ★GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法;

  ★GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗;

  ★GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》;

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